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LCR数字电桥如何测量兆欧级高阻抗电阻


*近有一些客户反映,用不同的品牌的LCR数字电桥或者同一品牌的lcr电桥的不同型号对兆欧级高阻抗电阻测量时,结果偏差很大,甚至是安捷伦,同惠的产品也是这样。经过我们仪器信息港(同惠上海总代)的工程师查阅了技术文献,走访了一些遇到这样问题的客户,我们给出了一下的解释,基本解决了LCR数字电桥如何测量兆欧级高阻抗电阻的问题。
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如下图所示,高值电阻包含一个寄生低pF 级电容,这个电容与电阻是并联:

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仪器信息港确认当使用 lcr数字电桥测量高值电阻时,应选择 Cp - Rp 测量功能(并联等效电路模式),使测量电路模式与电阻的实际等效电路相匹配,如下图所示。

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上图中,Xp 代表寄生电容在测试频率上的电抗(电容性阻抗)。公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因数。
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如果使用 R - X 测量功能来测量电阻,那么 E4980A/ 4284A 采用如下所示的串联等效电路:

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串联等效电路模式(R - X 测量中)不同于高值电阻的实际并联等效电路。因此, R - X 模式中的被测电阻与实际的并联电阻(Rp)不一致。从理论上讲,串联电阻(Rs)与并联电阻(Rp)的关系可用等式 Rs = Rp x D2 / (1 + D2) 表示。此处,串联和并联等效电路的损耗因数(D)值是相等的:

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D 值不够高(纯电阻性)时,串联电阻(Rs)总是低于并联电阻(Rp)。
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所以,您在使用lcr数字电桥时测量高阻抗电阻时,请选好测试参数进行测量。本文章由仪器信息港编写,希望对您有所帮助
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